典型的奧氏體不銹鋼檢測(cè)具有以下難點(diǎn)：

1.晶粒粗大，導(dǎo)致聲波散射嚴(yán)重，穿透能力差；

2.晶粒的各向異性導(dǎo)致聲波產(chǎn)生折射，缺陷定位不準(zhǔn)確。

我們采用雙線陣探頭+縱波斜楔塊的方案，可以有效的改善這些問題，在這個(gè)演示中，我們同時(shí)采用了凹曲面楔塊，來增加凸面（Φ120mm）的耦合效果。

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